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[单选题]
在X荧光分析中，将物料进一步磨细的目的是（)。
A.消除颗粒效应
B.便于压片
C.消除元素效应
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题目内容
（请给出正确答案）
A.消除颗粒效应
B.便于压片
C.消除元素效应
答案
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第3题
A.定量地了解高炉冶炼过程中全部物质与能量的来源与去向
B.找出进一步降低能耗的方向
C.定量地了解高炉冶炼过程中部分物质与能量的来源与去向
D.找出进一步提高操作水平的方向
第6题
A.制定具体审计计划的目的是确定审计范围、时间安排和方向
B.具体审计计划的核心内容是进一步审计程序的性质、时间和范围
C.注册会计师可以根据具体情况决定是否制定具体审计计划
D.具体审计计划的审计程序包括风险评估程序、进一步审计程序和其他审计程序
第8题
A.序列图是对对象之间传送消息的时间顺序的可视化表示
B.序列图从一定程度上更加详细地描述了用例表达的需求，将其转化为进一步更加正式的精细表达
C.序列图的目的在于描述系统中各个对象按照时间顺序的交互过程
D.在UML的表示中，序列图将交互关系表示为一张二维图，其中横向是时间轴，时间沿竖线向下延伸。纵向代表了在协作中各独立对象的角色
第9题
A．他对X所进行的类比的恰当性提出质疑。
B．他使X未能考虑人们对严重事故的反应是多么不同这一点变得很明显。
C．他将判断合理性的基础转变为对实用性的考虑。
D．他对人们为什么形成错误观点提出一种替代性的解释。
第10题
A.分析仪工作时，对正在受到射线照射的样品无需屏蔽
B.更换样品时必须关闭遮光器
C.不得在X射线管裸露的条件下调试分析仪
D.校准、调试分析仪的有用线束，须以较低电压、较低电流操作，避开强射线束，并采取局部屏蔽防护措施
